K60 Pro官方停產 第三方瞬間漲價
雖然沒有官方宣布，但Redmi的一些高管也已經透露了，Redmi K60 Pro已經停產且不會補貨，這一切都是為了即將到來的K60 Ultra鋪路，屬于廠家的正常操作。但有意思的是該機在停產之后
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日前，蘇州華星光電技術有限公司【下統稱TCL華星（蘇州）】憑借“AI 驅動的新型顯示面板智能工廠”一舉拿下工信部認證的“2025年度卓越級智能制造示范工廠”，昭示其已達到中國領先水平。走進TCL華星（蘇州）占地54萬平方米的生產工廠，高度自動化的機械臂與空中傳輸軌道有序運轉，鮮少見到工人身影。支撐工廠高效運行的核心，是一套具備自決策、自執行能力的智慧運營體系、從源頭加速產品創新的星智大模型，還有充當質檢工程師“眼”和“腦”的AI數字員工。
在工廠產品微米級缺陷檢驗這一關鍵環節，AI數字員工通過“ADC+ADR”雙系統閉環運作：ADC自動缺陷分類系統依托AI視覺技術，以95%的高準確率自動識別、分類超4000種微米級缺陷；ADR自動缺陷修復系統接收指令后，驅動高精度工具對可修復缺陷完成全自動修復。這一體系替代超75%傳統人工，將“人眼+經驗”的傳統模式，升級為“AI+數據”的精準高效新范式。
對比傳統AOI 設備依賴復判人員肉眼辨圖誤判率高達 60%-70% 的情況，基于“ADC+ADR”雙系統的數字員工正驅動工業質檢“超級智能時代”的到來。而這一切背后，源自格創東智自主研發的天樞AI ADC視覺質檢系統（下統稱天樞AI）的深度運用。格創東智天樞AI將深度學習所涉及的復雜運算與操作，封裝成可直接投入使用的生產力工具，憑借 “毫秒級復判” 帶來效率的顯著提升、成本的可觀節約以及缺陷的精準識別能力，賦予 “品質檢測” 以新的定義：
1）從“人海復判”到“AI 秒判”。 可提升初檢效率的傳統 AOI自動光學檢測設備仍存在高達 60% +的誤判率，仍需大量投入人工進行圖像復判。復判人員平均 2-3 秒判斷一張圖像，成本高昂、效率低下，更易受疲勞、經驗差異影響引致品質波動。
2）突破人眼極限：面板行業120余種缺陷需數百名質檢員日判百萬張圖片，受限于人眼疲勞、經驗差異與標準執行不一等固有瓶頸，人眼的局限性致使準確率僅85%。在半導體硅片檢測中，系統可識別0.2-20μm的宏觀缺陷，遠超傳統人工或規則算法的檢測極限。
3）減輕質檢成本：泛半導體試錯成本涉及裝備制程與工藝雙向計量，單次缺陷漏檢損失可達千萬。
于泛半導體企業而言，品質檢測始終是一道關乎效率與可靠性的重要關卡。隨著AI技術演進加速，ADC成為制造業提質增效的核心引擎。格創東智自主研發的天樞AI，以“感存算知”一體化技術架構，成為這場變革的“感官”武器。通過“訓練-推理-調度”三模塊協同，實現工業質檢全流程重構。
訓練平臺：內置千萬級缺陷特征庫，支持低代碼模型迭代。
推理平臺：搭載輕量化邊緣計算盒子，單張圖片處理速度達毫秒級，較人眼提速5-10倍；
資源調度：動態分配GPU算力，在TCL華星已實現100+算法模型并發運行。
基于對泛半導體行業對缺陷檢測的精度、速度與一致性需求的深刻洞察，格創東智將客戶檢測效率低、人力成本高、數據追溯難等共性痛點作為突破點，通過多模塊協同的架構設計，搭建行業內領先的光學實驗室，設備覆蓋30+行業的視覺檢測成像需求。對透光、反光、吸光等材質的成像已實現光學方案上的技術突破，已申請多項光學成像專利，極大降低了光學成像技術、算法檢測指標。加速客戶感受質檢“毫秒級復判效率、95% 以上檢出精度、模型自訓練數據自治理降本” 的三重飛躍，以全方位的優勢勝出競品。
生產節拍更快：無需Reference照片，產能提升2倍，生產更高效。
系統兼容性強：支持混合多類圖片，滿足多樣化檢測需求，提供更大選擇自由。
檢測結果快準穩：分類后快速上傳良率系統，企業及時獲取檢測結果，快速決策，提升生產效率。
服務更靈活：根據泛半導體企業需求定制模型，符合獨特生產工藝和良率要求。
響應更迅速：隨時快速響應客戶，制定改善計劃，確保問題及時解決。
擴容成本低：可單賣軟件，降低企業擴容成本，靈活擴展業務。
價格競爭力強：價格和維護費用優勢明顯，提供高性價比解決方案，降低運營成本。
而這一切技術成熟度并非偶然形成。其背后是多年在工業視覺、光學設計、精密機械與控制算法等領域的持續投入與跨學科融合。當前，天樞AI已成功應用于1000+工業場景，得到了卓越級智能制造示范工廠的落地驗證，其積累的數億+缺陷數據,為模型和數據自訓練、自優化提供強大支持。
值得關注的是，公司在半導體、半導體顯示、SMT行業擁有大量的典型案例。在某半導體生產項目中幫助客戶降低90%的人力投入，缺陷檢出率達 99%以上。
此次TCL 華星（蘇州）的AI 數字員工的成功，正是格創東智的工業質檢實踐的最佳注腳。當前，公司正積極推動產學研協同，與TCL工研院聯合強化在復雜缺陷模式發現與跨領域知識遷移方面的能力。
未來，隨著芯片尺寸不斷縮小、新型顯示技術加速迭代，工業檢測將向更高精度、更快響應與更強泛化的方向演進。格創東智會擔任中國工業智能體系構建的重要基石，重新定義“質檢”在制造中的角色，從被動到預防，從經驗到智驅，助力中國泛半導體企業在全球競爭中以“智”取勝。
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